在电子产品可靠性测试的前沿,高度加速的环境模拟技术如HAST(高度加速温度和湿度压力测试)发挥着决定性作用。它通过模拟极端条件,加速器件老化,对于塑封器件的研发和应用有着深远影响。HAST试验领域,UHAST与BHAST犹如两股力量,各有其独特之处。
UHAST,全称为温湿度无偏压高加速应力测试,它的核心在于在高温高湿环境下评估器件的可靠性,避免额外的电压压力影响。其参考标准为JESD22-A118,测试条件通常设定为130℃、85%RH、230KPa大气压,历时96小时。在测试过程中,关键在于监控芯片壳温,确保结温控制在安全范围,使用《HTOL测试技术规范》进行结温推算。
BHAST则更为激进,它在UHAST的基础上加入了偏压,旨在加速器件的腐蚀过程,参考标准为JESD22-A110。测试条件中,器件需要在高温、高湿、偏压的条件下运行,比如130℃、85%RH、230KPa大气压,同样持续96小时。在这个过程中,需要密切关注电压拉偏策略,确保在适当的时候调整电源电压,如输入管脚拉高,其他管脚随机拉高或拉低。
在选择高压加速老化试验箱时,理解UHAST和BHAST的差异至关重要。UHAST适合对可靠性要求更高的器件,而BHAST则适用于需要快速暴露缺陷的场合。科明作为您的可靠伙伴,提供专业的环境模拟可靠性试验解决方案,帮助您精准定位试验需求,确保产品的稳健与耐用性。