静电敏感
元器件有90%产生软击穿,而10%左右被完全破坏
静电敏感元器件有90%产生软击穿,而10%左右被完全破坏
易被静电损坏的电子器件称为静电敏感器件(Static Sensitive Device简称SSD)。由于科技时代的需要,小体积、多功能、快速度的集成电路已是目前电子工业的基本要求。增厚氧化膜,提高其耐压性,显然是行不通的,因此在器件的集成度越来越高的趋势下,通常将器件氧化膜的膜厚做得越来越薄使其尺寸减少,器件的耐压也随之降低。
半导体器件,特别是IC,根据其种类不同受静电破坏的程度也不一样,弱至100V的静电也会造成破坏,具体数据见表l。
表l各种半导体器受静电破坏的水平
元件的种类 遭受破坏的电压范围(V) 元器件典型范例
VMOS器件 30~1800 IRF640、SPP11N60S5、BSN304
MOS场效应器件 100~200 TDA4605、TDA16846
坤化镓场效应器件 100~300 EPROM 100 M24C08、AT24C16
结型场效应器件 140~7000 K30A
表面
滤波器 150~500 A号板的CF6264
运算放大器 190~2500 V号板LM3580
CMOS器件 250~3000 S、V号板AT27C010(L)
肖特基二极管 300~2500 高清上网板1N5817
薄膜电阻 300~3000
双极型晶体管 380~7000 C1815、A1015
可控硅 680~1000 V号板SFORIB4