第1个回答 2024-08-17
随着高速互联链路信号传输速率的提高，印制电路板（PCB）的信号完整性对通信系统的电气性能至关重要。高速产品如10G和25G+的广泛应用，使得对PCB传输线插入损耗（Insertion Loss）的监控变得重要。不同高速产品，对信号损耗的要求各不相同，例如服务器产品中，Intel针对不同服务器平台的损耗控制要求有所不同。
在损耗测试中，校准步骤对于确保测量精度至关重要。然而，大多数设备只能校准到一个参考端面，实际测试时，需要使用夹具连接校准参考端面与待测器件（DUT），夹具的存在会影响测量结果，因此需要去嵌入消除此部分影响，以获得更真实损耗值。
常见的去嵌入方法包括使用特制校准件的校准方法（如SOLT、TRL）以及通过直接测试或仿真分析获得测试夹具S参数的商用方法（如AFR、SFD、Delta L）。其中，Delta L方法近年来因其操作简便、测试精度高且能有效去除夹具影响的特点而广泛应用。
Delta L方法通过设计两条不同长度的传输线，测试长短线的S参数，先进行拟合运算消除多重反射影响，再直接计算待测线的损耗值。此方法显著简化了测试过程，提高了测试效率和精度，尤其适用于服务器产品的量产损耗监控。
本文详细介绍了不同损耗测试方法的原理及应用场景，包括TRL、SET2DIL和Delta L等方法。其中，Delta L方法在长短线长度、走线设计、残桩长度等因素对测试结果的影响进行了深入研究，并与业内常用的SET2DIL方法、TRL方法进行了精度对比分析。研究结果为高速PCB损耗测试提供了重要参考。
试验材料包括低损耗和超低损耗的高速材料，使用矢量网络分析仪进行测试。试验设计了不同长度、方式和背钻残桩长度的测试，分析了线长、走线方式、残桩对Delta L损耗结果的影响，并与SET2DIL和TRL方法进行了损耗结果对比。
研究结果表明，Delta L方法在长短线长度差异大于10 cm时，能有效弱化多重反射的影响，获得稳定、可信的损耗结果。不同走线方式和残桩长度对损耗测试结果的影响较小，可通过优化设计减少其影响。在测试精度上，Delta L方法在4 GHz、8 GHz和12.89 GHz频率下与TRL方法的损耗测试结果差异小于3%，且满足12.89 GHz甚至更高频率的损耗测试要求。
综上所述，Delta L损耗测试方法因其操作简便、测试精度高且能有效去除夹具影响的特点，适用于高速PCB的损耗监控。通过优化设计，Delta L方法能有效应对不同长度、走线方式和残桩长度对损耗测试结果的影响，提供精确的损耗测试结果。