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特征x射线产生的条件
放射性测量方法
答:
在已知
条件
下做好量板,给出I/I0与ρ,d的关系曲线。在野外测出I/I0后,即可根据量板查出相应的密度值ρ。 7.1.2.8 X荧光测量
X射线
荧光测量,也称X荧光测量,是一种人工放射性方法,用来测定介质所含元素的种类和含量。其工作原理是利用人工放射性同位素放出的X射线去激活岩石矿物或土壤中的待测元素,使之
产生特
...
简述扫描电子显微镜和
X射线
能谱仪器的基本构成及原理,扫描电子显微镜观察...
答:
通过测量电信号大小可计算出
特征X射线
能量,从而知道样品中存在哪些元素。对样品中发射特征X射线数量的统计,通过和标准样品进行比对,可获得样品中元素的精确含量。一般扫描电镜对样品的基本要求是干燥、无油、导电。在满足测试
条件
下,样品尽量小,根据测试目的,有针对性的选择工作条件。
生物物理学 知识点
答:
4. X射线的概念及其特点;为什么X射线经过晶体时会发生衍射?5. 连续X射线的概念及特点;连续X射线产生机理;6. 特征X射线谱的概念及特点;什么是激发电压?
特征X射线产生的
机理;7. X射线荧光光谱和电子探针分析的理论基础是什么?8. 晶体衍射的布拉格
条件
是什么?9. 衍射峰的位置、强度、峰形(峰...
X射线
荧光光谱分析
答:
一、基本原理 荧光的产生是由于初始X射线光子能量足够大,以致可以在样品中产生电子—空穴,导致二次辐射(荧光)的产生。这种二次辐射是组成样品的元素的特征。用于分离和测量初始X射线激发
产生的
分立的特征波长的技术,被称为X射线荧光光谱学。X射线荧光光谱学提供了一个用测量其
特征X射线
辐射波长或能量来...
实验七
X射线
衍射物相分析
答:
各方向的散射线仅有1′和2′满足衍射
条件
,由此
产生的
1A1′和2B2′之间的光程差为CBD=CB+BD,若晶面间距为d,则 CBD=2ABsinθ=2dsinθ 若这些
X射线
谱的波长相同,其光程差必然是波长的整数倍,即2dsinθ=nλ。其中n为反射级,此式也称为布拉格方程。从方程可以看出,sinθ的绝对值只能≤1,故...
样品分析的
X
荧光方法
答:
(一)基本原理 如果样品中元素的
特征X射线
峰计数率与被激发元素的含量成直线关系,则采用已知含量的标准样品进行比较方法,很容易求得样品中元素的含量为 放射性勘探方法 式中:Ii为样品中待分析元素A的特征X射线谱峰的计数率;I标为与样品处于相同几何
条件
下测得的标准标品中元素i的X射线谱峰计数率;...
XRF镀层测厚仪的原理是什么?
答:
XRF镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。如下图:其基本原理如下:X射线发射:XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线,X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器。X射线荧光反应:样品表面的涂层对
X射线产生
荧光反应,释放出
特征X射线
,特征X射线能量与涂层材料相关。特征X射线检测:...
基体效应
答:
2)如待测元素A的吸收限恰好比基体元素B
产生的特征X射线
能量稍小,则基体元素B的荧光大量被待测元素A吸收,使元素A的荧光增强。这个增强也将正比于基体元素B的浓度。3)如果没有强吸收限(即样品中待测元素之外没有高含量元素)存在,也就是说样品属于二元系统,没有构成三元系统;所产生的吸收效应称...
放射性同位素激发源
答:
为此制造了组合放射源,也就是使用放射性同位素放出比较大能量的γ射线,照射到一个选择的纯元素靶物质上,再以该靶物质发射的
特征X射线
为激发源。这种放射性同位素和靶按一定几何形状组合
产生的
X射线源叫组合源。 组合源的靶物质可以更换,其最大特点是根据需要可选择适当能量的单能X射线源。它适于特定
条件
下使用,或...
基体效应
答:
2)如待测元素A的吸收限恰好比基体元素B
产生的特征X射线
能量稍小,则基体元素B的荧光大量被待测元素A吸收,使元素A的荧光增强。这个增强也将正比于基体元素B的浓度。3)如果没有强吸收限(即样品中待测元素之外没有高含量元素)存在,也就是说样品属于二元系统,没有构成三元系统,所产生的吸收效应称...
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