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光学薄膜厚度
单层
光学薄膜
增透膜和增反膜的
厚度
是多少?
答:
增透膜的厚度可以是(2k+1)*半波长/2n
,k=0时,厚度为最小值,即波长/(4n),n是透镜折射率。增反膜的厚度可以是k*波长/2n,k=1时,厚度为最小值,即波长/(2n)。增透膜工作原理是,光到达膜的上表面反射一部分,到达下表面再反射一部分,2者之间有光程差,当这个光程差达到光...
为什么斜入射时
膜
层的有效
光学厚度
是ndcosθ,而不是nd/cosθ
答:
因为
光学厚度
,光程差与波长之间的一个关系,wiki上的图,这个光程差不是AB+BC;而是AB+BC-AD;用几何知识以及菲涅尔折射定律,可以推导出问题中的结果。光照射在
薄膜
两表面上被反射回去,在叠加处由于光程差使得两束反射光出现振动减弱,导致相互抵消,从而增强光的透射能力,这是依据光的干涉现象。
白光干涉对
薄膜厚度
要求
答:
白光干涉对薄膜厚度要求是10纳米-50微米
。光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理,可以测量的膜层厚度要求是10纳米-50微米。频闪白光干涉技术(SWLI)能够对被测系统进行动态模式的重建和表征,在微机电系统(MEMS)或微光机电系统(MOEMS)等振动样品测量中具有很高的实用性。
光的干涉
薄膜厚度
问题公式
答:
薄膜干涉的光程差公式:L=λ/(2n*sinθ)
。光程差包括三个因素,路程差、介质和半波损。薄膜干涉,两条光线分别在上下表面发生发射,路程差就是薄膜厚度2倍,即2e,再乘以折射率再加上半波损,就是2ne+半波长。薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤...
薄膜
的
厚度
对薄膜干涉有什么影响?
答:
薄膜干涉中两相干光的光程差公式为 Δ=2ndcos(θt)±λ/2式中n为薄膜的折射率;d为入射点的
薄膜厚度
;θt为薄膜内的折射角;±λ/2 是由于两束相干光在性质不同的两个界面(一个是光疏-光密界面,另一是光密-光疏界面)上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理广泛应用于
光学
表面的检验、...
薄膜
干涉条纹间距与
厚度
关系
答:
薄膜干涉是
光学
中的一个重要现象,它是由于光在薄膜的两个表面上发生反射和折射而产生的。在等厚干涉中,如果薄膜的厚度均匀变化,那么产生的干涉条纹就是与劈棱平行的明暗相间的直条纹,相邻条纹间距相等。这是因为在同一条明(暗)条纹处,两反射光相遇时的路程差为该处
薄膜厚度
的2倍,即△r=2d。
薄膜干涉为什么能用于测定
薄膜厚度
?。
答:
相位关系取决于两个反射光的不同光程,光程取决于
薄膜厚度
、
光学
常数和波长。当光从疏水介质进入稠密介质并被反射时,光的相位会转180度(I必+1/2),所以当光程差2nd=(i+1/2)λ时,两组反射光相长干涉;反之,当光程差2nd=iλ时,两组反射光相位相反,因此干涉相消。(d是薄膜的厚度,I是整数...
光学薄膜厚度
测量仪(锂电池测厚仪)的工作原理是什么?
答:
对于
光学薄膜厚度
测量这一操作原理,大家应该不是很清楚,我们借用工具来说明下。深圳大成精密研制了一款光学干涉测厚仪(锂电池测厚仪),利用光入射不同界面发生反射和透射而产生干涉条纹的原理,从而测量得出被测物的厚度。有这个需要的话,大家放心选择该品牌产品,操作简单、质量可靠。
背光源用的PET聚酯薄膜与
光学薄膜
有什么区别
答:
是常用的阻透性复合薄膜基材之一。但聚酯薄膜的价格较高,一般
厚度
为0.12mm,常用做蒸煮包装的外层材料,印刷性较好。2、由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料。
光学薄膜
的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器。
怎样测量
薄膜厚度
?
答:
微米级、纳米级的薄膜,可以用
薄膜厚度
测量仪AF-3000系列测量;AF系列精度达0.1nm,可测10层膜的膜厚,还支持客制化,可离线/在线/Mapping等多场景应用。AF系列采用的是分光干涉原理,从测量原理来看,只能测透光或半透光的薄膜,理论上来说金属和类金属化合物这类不透光材质的薄膜,是无法检测的。但...
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